ASTM E 1523-1993 X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术标准导则
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 13:32:42 浏览:8204
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【英文标准名称】:StandardGuidetoChargeControlandChargeReferencingTechniquesinX-RayPhotoelectronSpectroscopy
【原文标准名称】:X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术标准导则
【标准号】:ASTME1523-1993
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1993
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:偏压参考;电荷控制;内部参考;射线光电子;射线光电子谱;参考;参照技术;外部充电;关键参考;表面分析;X射线;导则;光谱学;惰性气体
【英文主题词】:inertgases;x;surfaceanalysis;spectroscopy;biasreferencing;chargecontrol;internalreferencing;keyreferencing;rayphotoelectron;rayphotoelectronspectroscopy;referencing;referencingtechniques;sur
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:X射线光电子谱测定中电荷控制和电荷参照技术标准导则
【标准号】:ASTME1523-1993
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1993
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:偏压参考;电荷控制;内部参考;射线光电子;射线光电子谱;参考;参照技术;外部充电;关键参考;表面分析;X射线;导则;光谱学;惰性气体
【英文主题词】:inertgases;x;surfaceanalysis;spectroscopy;biasreferencing;chargecontrol;internalreferencing;keyreferencing;rayphotoelectron;rayphotoelectronspectroscopy;referencing;referencingtechniques;sur
【摘要】:
【中国标准分类号】:G04
【国际标准分类号】:71_040_40
【页数】:
【正文语种】:英语
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